Измерения и контроль в микроэлектронике

Автор: SCART56 от 14-08-2017, 06:56, Коментариев: 0

Категория: КНИГИ » АППАРАТУРА


Название: Измерения и контроль в микроэлектронике
Автор: Дубовой Н.Д., Осокин В.И., Очков А.С. и др.
Издательство: М.: Высшая школа
Год: 1984
Страниц: 367
Формат: PDF
Размер: 13.4 Мб
Язык: русский

В книге рассматриваются основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при производстве интегральных микросхем. Для формирования у студентов единого подхода к вопросам измерения и контроля материал пособия излагается на основе действующих государственных и отраслевых стандартов. С этой же целью в нем рассматриваются главные понятия из области метрологии и основы технологии изготовления интегральных микросхем.

Скачать Дубовой Н.Д. и др. - Измерения и контроль в микроэлектронике




ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!


Нашел ошибку? Есть жалоба? Жми!
Пожаловаться администрации
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.