Автор: Н.П. Байда, И.В. Кузьмин, В.Т. Шпилевой
Издательство: Радио и связь
Год: 1987
Формат: pdf
Страниц: 257
Размер: 11,2 Mb
Язык: Русский
Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.