Основы анализа поверхности и тонких пленок

Автор: Igor1977 от 8-11-2016, 16:19, Коментариев: 0

Категория: КНИГИ » ЕСТЕСТВЕННЫЕ НАУКИ

Основы анализа поверхности и тонких пленок
Название: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л., Майер Д.
Издательство: М.: Мир
Год: 1989
Формат: pdf
Страниц: 344
Размер: 11 mb
Язык: Русский

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.




ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!


Нашел ошибку? Есть жалоба? Жми!
Пожаловаться администрации
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.