Название: Основы математической метрологии Автор: Цветков Э. И. Издательство: Политехника Год: 2011 Cтраниц: 515 Формат: pdf (ocr) Размер: 62 мб Язык: русский
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
Предисловие 5 Основные обозначения 6 Введение 9 Часть 1. ИСХОДНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ 15 Глава 1.1. Общие сведения 15 Глава 1.2. Измерительные математические модели 29 Глава 1.3. Измерительные преобразования 50 Глава 1.4. Типовые измерительные процедуры 66 Часть 2. ПОГРЕШНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ. ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОГРЕШНОСТЕЙ. ОЦЕНИВАНИЕ ПОГРЕШНОСТЕЙ И ИХ ХАРАКТЕРИСТИК 88 Глава 2.1. Погрешности результатов измерений 88 Глава 2.2. Характеристики погрешностей результатов измерений 121 Глава 2.3. Анализ погрешностей 139 Глава 2.4. Определение характеристик погрешностей 168 Часть 3. МЕТРОЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ НЕИТЕРАТИВНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ БЕЗ УСРЕДНЕНИЯ 215 Глава 3.1. Аналого-цифровое преобразование (равномерное квантование) 215 Глава 3.2. Аналого-цифровое преобразование (неравномерное квантование) 243 Глава 3.3. Достоверность результатов расчетного метрологического анализа аналого-цифрового преобразования 261 Глава 3.4. Прямые неитеративные измерения без усреднения 274 Глава 3.5. Косвенные неитеративные измерения без усреднения 292 Часть 4. МЕТРОЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ НЕИТЕРАТИВНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ С УСРЕДНЕНИЕМ 317 Глава 4.1. Неитеративные измерения с фильтрацией аддитивной помехи. Общие положения 317 Глава 4.2. Описание и анализ неитеративных измерений с фильтрацией 341 Глава 4.3. Измерение вероятностных характеристик случайных процессов. Исходные определения 370 Глава 4.4. Основы метрологического анализа результатов измерений вероятностных характеристик случайных процессов 380 Глава 4.5. Характеристики погрешностей результатов статистических измерений 400 Глава 4.6. Идентификация функциональных вероятностных характеристик 416 Часть 5. ИТЕРАТИВНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ 429 Глава 5.1. Метрологический анализ результатов итеративных измерений 429 Глава 5.2. Потенциальная точность 434 Глава 5.3. Измерения с коррекцией 451 Глава 5.4. Адаптивные измерения 473 Заключение 496 Литература
Скачать Цветков Э. И. - Основы математической метрологии
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Название: Основы математической метрологии