Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применениеАвтор: под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга
Издательство: Лаборатория знаний
Год: 2017 - 3-е изд.
Cтраниц: 601
Формат: pdf (ocr)
Размер: 22 мб
Язык: русский
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Скачать под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанг - Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: Методы и применение