Автор: Уханов Ю.И.
Издательство: М.: Наука
Год: 1977
Cтраниц: 366
Формат: pdf
Размер: 12 мб
Язык: русский
Оптические методы исследования позволяют изучать физические свойства полупроводников и независимо от других методов точно определять их характеристические параметры. В настоящей монографии творчески обобщены последние результаты экспериментальных исследований оптических свойств полупроводников на примере трех групп материалов: элементарные полупроводники (Ge, Si), соединения A3В5 (InSb, InAs, GaAs и другие), соединения A4В6 (PbS, PbSe, РbТе).
Эти материалы полно раскрывают особенности структуры электронных спектров полупроводников, наиболее детально исследованы и широко применяются в полупроводниковых приборах. Большое внимание в монографии уделено описанию методик экспериментального исследования спектров отражения и прозрачности в области длин волн от ультрафиолетовой до далекой инфракрасной. Краткое рассмотрение теории явлений позволяет читателю сделать вывод о возможностях метода и точности измеряемых с его помощью параметров полупроводника.
Скачать Уханов Ю.И. - Оптические свойства полупроводников