Основы сканирующей зондовой микроскопии

Автор: Bender от 7-01-2018, 08:43, Коментариев: 0

Категория: КНИГИ » ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Название: Основы сканирующей зондовой микроскопии
Автор: Миронов В.Л.
Издательство: Техносфера
Серия: Мир физики и техники
Год издания: 2005
Страниц: 140
ISBN: 5-94836-034-2
Формат: PDF
Размер: 19,3 Мб
Качество: хорошее
Язык: русский

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.




ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!


Нашел ошибку? Есть жалоба? Жми!
Пожаловаться администрации
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.