
Автор: Ковтонюк Н.Ф., Концевой Ю.А.
Издательство: М.: Металлургия
Год: 1970
Формат: pdf, djvu
Страниц: 431
Размер: 50,2 Мб
Язык: Русский
В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления.