Измерение параметров цифровых интегральных микросхем

Автор: polyanskiy от 27-08-2017, 09:17, Коментариев: 0

Категория: КНИГИ » АППАРАТУРА


Автор: Д. Ю. Эйдукас, Б. В. Орлов, Л. М. Попель, В. И. Лышенко, О. Н. Шаромет, Н. Н. Данилин,
Название: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем
Издательство: М:, Радио и связь
Год: 1982
Страниц: 368
Формат: DJVU
Размер: 6 МБ

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля. Для инженерно-технических работников — разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.




ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!


Нашел ошибку? Есть жалоба? Жми!
Пожаловаться администрации
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.